скануюча електронна мікроскопія (FE-SEM) є передовою технологією, що використовується щоб отримати зображення мікроструктури матеріалів. FE-SEM зазвичай виконується у високому вакуумі, оскільки молекули газу мають тенденцію порушувати електронний промінь і випущені вторинні та зворотно розсіяні електрони, які використовуються для зображення.
У порівнянні зі звичайною скануючою електронною мікроскопією (SEM), польова емісія SEM (FESEM) створює чіткіші зображення з меншими електростатичними спотвореннями з просторовою роздільною здатністю до 1 1/2 нанометра – у три-шість разів краще.
Дослідження FESEM-EDX дозволили нам це зробити виявити взаємозв'язок між елементним складом і морфологічними змінами. Крім того, процеси старіння були з'ясовані шляхом вивчення змін елементного складу вовни від захисної кутикули до серцевини волокна на поперечних зрізах.
Скануюча електронна мікроскопія, або SEM, створює детальні збільшені зображення об’єкта шляхом сканування його поверхні для створення зображення високої роздільної здатності. SEM робить це за допомогою сфокусованого пучка електронів.
загалом, якщо вам потрібно оглянути відносно велику площу й потрібні лише деталі поверхні, SEM ідеальний. Якщо вам потрібні внутрішні деталі невеликих зразків із роздільною здатністю, близькою до атомної, знадобиться ТЕМ.
Друга перевага FESEM полягає в тому, що Зображення з високою роздільною здатністю можна виконувати з дуже низькою прискорювальною напругою. При низькій напрузі легше спостерігати дуже тонкі деталі, і багато непровідних матеріалів можна досліджувати без нанесення провідного покриття.